Uchunguzi wa CT PT
-
HEWE Series Transformer Tester
1. Onyesho la LCD
2. Hitilafu ya uwiano na mtihani wa makosa ya pembe ya awamu
3. Impedans na admittance mtihani
4. Na programu ya PC
5. Na printa ndogo iliyojengewa ndani kwa rekodi za majaribio ya uchapishaji (si lazima)
-
Kichanganuzi cha CT/PT MCVT01C
Mtihani wa uwiano wa zamu.
Hitilafu ya uwiano na mtihani wa makosa ya pembe ya awamu.
Mtihani wa mzigo wa sekondari.
Uchunguzi wa polarity.
-
Portable Capacitance PT Test Equipment MCVT01
Kupitisha njia isiyo ya moja kwa moja ili kutambua mtihani wa uwiano, makosa ya uwiano na makosa ya pembe ya awamu, na nk.
Kupitia mtihani wa Uwiano na kiingilio, hesabu makosa ya 80% -120% ya voltage iliyokadiriwa chini ya mzigo uliokadiriwa na mzigo wa kikomo cha chini.
Ukubwa mdogo na uzani mwepesi, unaofaa kwa jaribio la shamba la Capacitance PT.
Mtihani wa uwiano wa voltage.
-
CT Burden FY mfululizo
Uendeshaji mpana wa anuwai
Usahihi: ±3%
Kiwango kinachotumika: IEC60044-2 au ANSI/IEEE C57.13
Hali ya utendakazi wa aina nyingi ni ya hiari: skrini ya kugusa, kichagua vitufe na swichi ya kifundo
-
Kidhibiti cha Kielektroniki cha Kubebeka (Dijitali) CT/VT HEWD-2A
Jaribio la Hitilafu ya Pato Dijitali (Hitilafu ya Uwiano na Hitilafu ya Awamu).
Inapatana na itifaki IEC61850-9-1/2/2LE na IEC60044-FT3.
Mtihani wa Hitilafu ya Pato la Analogi (Hitilafu ya Uwiano na Hitilafu ya Awamu).
Analog ya pato la ishara ndogo.
Uzingatiaji wa EMC na kiwango cha IEC60044-8.
-
Mfululizo wa PT Burden FY
1. Uendeshaji wa aina mbalimbali
2. Usahihi: ±3%
3. Kiwango kinachotumika: IEC60044-2 au ANSI/IEEE C57.13
4. Hali ya uendeshaji ya aina nyingi ya hiari: skrini ya kugusa, kichagua kitufe na swichi ya kisu
