Uchunguzi wa CT PT
-
Kichanganuzi cha MCVT405 CT/PT
Mtihani wa uwiano wa zamu.
Hitilafu ya uwiano na mtihani wa makosa ya pembe ya awamu.
Mtihani wa mzigo wa sekondari.
Nambari ya jina.
Uamuzi wa mabaki ya sumaku ya CT na demagnetization.
Uchunguzi wa polarity.
ALF na FS.
-
HES Series Transformer Tester
Onyesho la LCD.
Hitilafu ya uwiano na mtihani wa makosa ya pembe ya awamu.
Mtihani wa Impedans na admittance.
Na programu ya PC.
-
Mfululizo wa Kigeuzi Kinachowezekana cha Kiwango cha Juu cha Voltage HJ (66-500KV)
1) 110-500KV/√3kV upeo wa masafa kwa chaguo.
2) Usahihi wa juu na utulivu na utendaji.
3) Inatumika kama kiwango cha upimaji wa PT.
4) Kubuni tofauti kwa kiwango cha juu cha voltage tofauti.
Customized kulingana na mahitaji ya mteja inapatikana.
-
HEWE Series Transformer Tester
1. Onyesho la LCD
2. Hitilafu ya uwiano na mtihani wa makosa ya pembe ya awamu
3. Impedans na admittance mtihani
4. Na programu ya PC
5. Na printa ndogo iliyojengewa ndani kwa rekodi za majaribio ya uchapishaji (si lazima)
-
Kichanganuzi cha CT/PT MCVT01C
Mtihani wa uwiano wa zamu.
Hitilafu ya uwiano na mtihani wa makosa ya pembe ya awamu.
Mtihani wa mzigo wa sekondari.
Uchunguzi wa polarity.
-
Portable Capacitance PT Test Equipment MCVT01
Kupitisha njia isiyo ya moja kwa moja ili kutambua mtihani wa uwiano, makosa ya uwiano na makosa ya pembe ya awamu, na nk.
Kupitia mtihani wa Uwiano na kiingilio, hesabu makosa ya 80% -120% ya voltage iliyokadiriwa chini ya mzigo uliokadiriwa na mzigo wa kikomo cha chini.
Ukubwa mdogo na uzani mwepesi, unaofaa kwa jaribio la shamba la Capacitance PT.
Mtihani wa uwiano wa voltage.
-
CT Burden FY mfululizo
Uendeshaji mpana wa anuwai
Usahihi: ±3%
Kiwango kinachotumika: IEC60044-2 au ANSI/IEEE C57.13
Hali ya utendakazi wa aina nyingi ni ya hiari: skrini ya kugusa, kichagua vitufe na swichi ya kifundo
-
Kidhibiti cha Kielektroniki cha Kubebeka (Dijitali) CT/VT HEWD-2A
Jaribio la Hitilafu ya Pato Dijitali (Hitilafu ya Uwiano na Hitilafu ya Awamu).
Inapatana na itifaki IEC61850-9-1/2/2LE na IEC60044-FT3.
Mtihani wa Hitilafu ya Pato la Analogi (Hitilafu ya Uwiano na Hitilafu ya Awamu).
Analog ya pato la ishara ndogo.
Uzingatiaji wa EMC na kiwango cha IEC60044-8.
-
Mfululizo wa PT Burden FY
1. Uendeshaji wa aina mbalimbali
2. Usahihi: ±3%
3. Kiwango kinachotumika: IEC60044-2 au ANSI/IEEE C57.13
4. Hali ya uendeshaji ya aina nyingi ya hiari: skrini ya kugusa, kichagua kitufe na swichi ya kisu
-
CT ya Kawaida Na mfululizo wa Jenereta ya HLS ya Sasa
Usahihi wa juu.
5 hadi 4000A muundo wa kibadilishaji cha sasa (au kulingana na mahitaji ya mteja).
Inatumika kwa kipimo cha usahihi cha urekebishaji wa chombo cha CT.
Na kituo cha kupima utendakazi wa CT na kuthibitisha usahihi wake.
Inaweza kuunganishwa na chanzo cha sasa.
-
Benchi la Mtihani wa CT & PT
Hitilafu ya Uwiano na Jaribio la makosa ya pembe ya Awamu
Usahihi wa data ya mtihani wa hali ya juu na thabiti
Kitendaji cha kuondoa sumaku kwenye mzunguko wa wazi na wa mzunguko wa karibu
Na juu ya sasa, juu ya voltage, polarity ya nyuma, overload na ulinzi usio sahihi wa waya
Kiwango kinachotumika: IEC 60044 au ANSI/IEEE C57.13 (inategemea mahitaji ya mteja)
-
Mfululizo wa Kawaida wa Sasa wa Transformer HLB-32G
5-3200A muundo wa sasa wa transfoma.
Kupitisha kanuni za hatua mbili ili kuhakikisha usahihi bora.
Darasa la usahihi: 0.005.
Masafa ya Uendeshaji: (1-120%)Katika.
Takriban 50kgs.
Transfoma ya sasa iliyounganishwa na chanzo inaweza kuwa ya hiari.
